München, 23. Januar 2020 – Eine neue Option für die Oszilloskope R&S RTO und R&S RTP lässt Entwickler tieferen Einblick in die einzelnen Jitter-Komponenten ihrer Übertragungsschnittstelle gewinnen. Jetzt können sie Jitter in zufällige und deterministische Komponenten zerlegen und die Ergebnisse für eine effektive Fehleranalyse flexibel anzeigen. Der Algorithmus von Rohde & Schwarz verwendet ein parametrisches Signalmodell für genaue Messungen und zusätzliche Ergebnisdarstellungen.

Rohde & Schwarz präsentiert eine neuartige und leistungsstarke Methode zur Analyse der einzelnen Jitter-Komponenten. Diese liefert den Entwicklern elektronischer Schaltungen bisher nicht verfügbare, detailliertere Informationen, die für die Fehlersuche bei schnellen Signalen von unschätzbarem Wert sind.

RTP RTO jitter option web

Foto ©Rohde & Schwarz

Mit steigenden Datenraten und abnehmenden Spannungsschwankungen entfällt in digitalen Schnittstellen ein bedeutender Prozentsatz des Signalisierungsintervalls auf Jitter, der somit zu einer potentiellenFehlerquelle wird. Ingenieure benötigen daher vermehrt Werkzeuge, die den Signal-Jitter genau charakterisieren, einschließlich einer Analyse der beitragenden Einzelkomponenten.

Die Option R&S RTO-/ RTP-K133 für Erweiterte Jitter-Analyse bietet einen analytischen Ansatz, um die einzelnen Komponenten von Jitter zu separieren. Dazu gehören sowohl zufälliger Jitter als auch deterministische Jitter-Komponenten wie datenabhängiger und periodischer Jitter. Dieser Ansatz basiert auf einem parametrischen Signalmodell, das das Verhalten der zu testenden Übertragungsverbindung vollständig charakterisiert.

Ein Hauptvorteil dieser Methode von Rohde & Schwarz besteht darin, dass das Jitter-Modell im Gegensatz zu herkömmlichen Methoden, bei denen die Daten auf einen bestimmten Satz an Time Interval Error (TIE)-Messungen reduziert werden, hier die vollständigen Signalformeigenschaften des zu testenden Signals umfasst. Das Ergebnis sind konsistente Messdaten auch bei relativ kurzen Signalfolgen sowie bisher nicht verfügbare Informationen wie die Sprungantwort oder die Unterscheidung zwischen vertikalem und horizontalem periodischen Jitter. Verschiedene Jitter-Darstellungsformen bieten dem Anwender detaillierte Einblicke in die Daten, z. B. synthetische Augendiagramme, Histogramme aller einzelnen Jitter-Komponenten, Spektral- und Peak-Ansichten von periodischem Jitter und das „Badewannendiagramm“ (Bathtub Plot) zur Abschätzung der Bitfehlerrate.

Josef Wolf, Senior Vice President und Leiter des Fachgebiets Oszilloskope bei Rohde & Schwarz, ist sich sicher, dass die Option R&S RTO-/ RTP-K133 am Markt sehr gut ankommen wird. „Wir sind stolz darauf, mit unserer innovativen Methode den ersten wirklich neuen Ansatz in Sachen Jitter-Separation seit 20 Jahren einzuführen. Mit unserer Option für Erweiterte Jitter-Analyse helfen wir Ingenieuren, zusätzliche Erkenntnisse über die Jitter-Eigenschaften ihres Signals zu gewinnen, die bisher nicht verfügbar waren.“

Diese neue Option zur Jitter-Separation erweitert die Signalintegritäts-Debugging-Funktionen für Ingenieure und bietet ergänzend die branchenweit einzige integrierte TDR-/TDT-Messmöglichkeit (Zeitbereichsreflektometrie/Zeitbereichstransmissometrie) sowie Echtzeit-Deembedding-Funktionen in einem einzigen Oszilloskop.

Die Option R&S RTx-K133 für die Oszilloskope R&S RTO und R&S RTP ist ab sofort bei Rohde & Schwarz erhältlich. Auf der DesignCon 2020 vom 28. bis 30. Januar in Santa Clara, Kalifornien, wird die Funktion erstmals der Öffentlichkeit bei Live-Demonstration am Rohde & Schwarz-Stand Nr. 623 gezeigt.

Weitere Informationen finden sich unter: www.rohde-schwarz.com